TK-MCLT型半导体少数载流子寿命测试仪
非平衡少数载流子在半导体许多现象中扮演着重要角色，载流子寿命就是描述非平衡载流子特性以及表征材料性能的重要参数，是研究半导体物理的重要手段之一。本实验采用电导调变法，即双脉冲法测定硅中少数载流子寿命，实验现象直观。
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