<thead id="qnhq4"></thead>
TK-MCLT型半导体少数载流子寿命测试仪
非平衡少数载流子在半导体许多现象中扮演着重要角色，载流子寿命就是描述非平衡载流子特性以及表征材料性能的重要参数，是研究半导体物理的重要手段之一。本实验采用电导调变法，即双脉冲法测定硅中少数载流子寿命，实验现象直观。
公司概况资质荣誉
企业文化组织机构
科技研发品质管理
董事长致辞
公司动态
行业新闻
联系方式
咨询留言
售后服务
资料下载
实验系列
实训系列
典型用户
社会招聘
校园招聘